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固体試料分析装置及び固体試料分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170180602
申请日
:
2017-09-20
公开(公告)号
:
JP6972826B2
公开(公告)日
:
2021-11-24
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J49/14
IPC分类号
:
G01N23/2251
G01N23/2258
G01N27/62
H01J37/244
H01J37/28
H01J37/317
H01J49/40
H01J49/42
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7267360B2
,2023-05-01
[2]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013099648A1
,2015-05-07
[3]
試料分析方法及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025002086A
,2025-01-09
[4]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6313977B2
,2018-04-18
[5]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7379426B2
,2023-11-14
[6]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011155489A1
,2013-08-01
[7]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6030676B2
,2016-11-24
[8]
試料分析方法及び試料分析装置[ja]
[P].
SOWA KENKICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
DAIPLA WNRES CO LTD
DAIPLA WNRES CO LTD
SOWA KENKICHI
.
日本专利
:JP2025101574A
,2025-07-07
[9]
試料分析方法、試料分析装置および試薬[ja]
[P].
日本专利
:JP6738652B2
,2020-08-12
[10]
試料分析方法および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6009963B2
,2016-10-19
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