試薬キット、測定キット及び被検物質の測定方法。[ja]

被引:0
申请号
JP20140183064
申请日
2014-09-09
公开(公告)号
JP6277099B2
公开(公告)日
2018-02-07
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N33/543
IPC分类号
G01N21/64 G01N33/533 G01N33/553
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
被検物質測定キット及び被検物質の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6118761B2 ,2017-04-19
[2]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7150890B2 ,2022-10-11
[3]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019177158A1 ,2021-02-04
[4]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019177157A1 ,2021-02-04
[5]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7026203B2 ,2022-02-25
[6]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2020158835A1 ,2021-11-04
[7]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7150891B2 ,2022-10-11
[8]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2020158836A1 ,2021-11-04
[9]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7022198B2 ,2022-02-17