学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
試薬キット、測定キット及び被検物質の測定方法。[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140183064
申请日
:
2014-09-09
公开(公告)号
:
JP6277099B2
公开(公告)日
:
2018-02-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/543
IPC分类号
:
G01N21/64
G01N33/533
G01N33/553
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
被検物質測定キット及び被検物質の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6118761B2
,2017-04-19
[2]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7150890B2
,2022-10-11
[3]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019177158A1
,2021-02-04
[4]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019177157A1
,2021-02-04
[5]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7026203B2
,2022-02-25
[6]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020158835A1
,2021-11-04
[7]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7150891B2
,2022-10-11
[8]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020158836A1
,2021-11-04
[9]
試薬キット、測定キットおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7022198B2
,2022-02-17
[10]
PIVKA−II測定方法、測定試薬及び測定キット[ja]
[P].
日本专利
:JP6032470B2
,2016-11-30
←
1
2
3
4
5
→