画像適否判定装置、画像適否判定方法および画像適否判定プログラム[ja]

被引：0

申请号：

JP20150087750

申请日：

2015-04-22

公开(公告)号：

JP6557504B2

公开(公告)日：

2019-08-07

发明(设计)人：

申请人：

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IPC主分类号：

G06F16/45

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法律状态信息

共 50 条

[1]

ＳＥＭ画像適否判定方法、ＳＥＭ画像適否判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5888000B2 ,2016-03-16

[2]

適否判定方法、適否判定装置及び車上装置[ja] [P].

日本专利 :JP6899796B2 ,2021-07-07

[3]

画像適性判定装置、画像適性判定方法、プログラム[ja] [P].

NAKAJIMA MITSUYASU ;

MAENO HIROSHI .

日本专利 :JP2024134029A ,2024-10-03

[4]

良否判定方法、良否判定装置、良否判定システムおよび良否判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7251066B2 ,2023-04-04

[5]

画像生成装置、良否判定装置、画像生成方法、良否判定方法及びプログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7575664B2 ,2024-10-30

[6]

衛星信号捕捉適否判定方法及び衛星信号捕捉適否判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5740961B2 ,2015-07-01

[7]

良否判定装置および良否判定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7153127B2 ,2022-10-13

[8]

画像判定方法、画像判定装置および画像判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7106391B2 ,2022-07-26

[9]

画像判定プログラム、画像判定方法および画像判定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018025392A1 ,2019-04-04

[10]

画像判定プログラム、画像判定方法および画像判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6662456B2 ,2020-03-11

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