接触不良測定方法及び接触不良測定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20120501782

申请日：

2011-02-22

公开(公告)号：

JPWO2011105363A1

公开(公告)日：

2013-06-20

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01R31/04

IPC分类号：

G01M17/007

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法律状态信息

共 50 条

[1]

接触不良測定方法及び接触不良測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5706871B2 ,2015-04-22

[2]

电气接触不良及故障监测装置 [P].

吴勇 ;

胡今胜 ;

王少杰 .

中国专利 :CN202171631U ,2012-03-21

[3]

电路接触不良探测器 [P].

高子泉 .

中国专利 :CN201032487Y ,2008-03-05

[4]

仪表测试线接触不良检测装置 [P].

朱华国 ;

陈军 .

中国专利 :CN202339390U ,2012-07-18

[5]

电流回路接触不良检测装置 [P].

李宜冰 ;

蔡永帅 ;

孟宽 .

中国专利 :CN218470945U ,2023-02-10

[6]

电源输入接触不良模拟器 [P].

张春良 ;

廖鹏程 ;

欧国斌 ;

黄志兵 .

中国专利 :CN112255564A ,2021-01-22

[7]

电源输入接触不良模拟器 [P].

张春良 ;

廖鹏程 ;

欧国斌 ;

黄志兵 .

中国专利 :CN214067343U ,2021-08-27

[8]

防接触不良电池连接机构 [P].

许小玲 .

中国专利 :CN101673912A ,2010-03-17

[9]

电源输入接触不良模拟器 [P].

张春良 ;

廖鹏程 ;

欧国斌 ;

黄志兵 .

中国专利 :CN112255564B ,2025-05-02

[10]

接触位置測定装置及び接触位置測定方法[ja] [P].

HONDO TAKATOSHI .

日本专利 :JP2024099935A ,2024-07-26

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