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試料保持器および荷電粒子線装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210521587
申请日
:
2019-05-27
公开(公告)号
:
JP7241174B2
公开(公告)日
:
2023-03-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/20
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料保持器および荷電粒子線装置[ja]
[P].
HANEDA SHIGERU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HANEDA SHIGERU
;
AZUMA JUNZO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
AZUMA JUNZO
.
日本专利
:JP2023060182A
,2023-04-27
[2]
分析装置と試料保持器[ja]
[P].
日本专利
:JP6312747B2
,2018-04-18
[3]
触角保持器および触角保持方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020059223A1
,2021-09-16
[4]
保持器および保持器の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6197413B2
,2017-09-20
[5]
電極保持器およびその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7531788B2
,2024-08-13
[6]
保持器および玉軸受[ja]
[P].
日本专利
:JP6084365B2
,2017-02-22
[7]
保持器および玉軸受[ja]
[P].
日本专利
:JP3230649U
,2021-02-12
[8]
軸受保持器および画像形成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5748987B2
,2015-07-15
[9]
軸受用保持器および軸受[ja]
[P].
日本专利
:JP6608151B2
,2019-11-20
[10]
保持器、および、保持器付き針状ころ[ja]
[P].
日本专利
:JP7648418B2
,2025-03-18
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