試料保持器および荷電粒子線装置[ja]

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申请号
JP20210521587
申请日
2019-05-27
公开(公告)号
JP7241174B2
公开(公告)日
2023-03-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J37/20
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
試料保持器および荷電粒子線装置[ja] [P]. 
HANEDA SHIGERU ;
AZUMA JUNZO .
日本专利 :JP2023060182A ,2023-04-27
[2]
分析装置と試料保持器[ja] [P]. 
日本专利 :JP6312747B2 ,2018-04-18
[3]
触角保持器および触角保持方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2020059223A1 ,2021-09-16
[4]
保持器および保持器の製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6197413B2 ,2017-09-20
[5]
電極保持器およびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7531788B2 ,2024-08-13
[6]
保持器および玉軸受[ja] [P]. 
日本专利 :JP6084365B2 ,2017-02-22
[7]
保持器および玉軸受[ja] [P]. 
日本专利 :JP3230649U ,2021-02-12
[8]
軸受保持器および画像形成装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5748987B2 ,2015-07-15
[9]
軸受用保持器および軸受[ja] [P]. 
日本专利 :JP6608151B2 ,2019-11-20
[10]
保持器、および、保持器付き針状ころ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7648418B2 ,2025-03-18