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クロム測定試薬及びクロム測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120162757
申请日
:
2012-07-23
公开(公告)号
:
JP5880328B2
公开(公告)日
:
2016-03-09
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N31/00
IPC分类号
:
G01N21/77
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
クロック信号測定装置、クロック信号測定システム、クロック信号測定方法、及び、クロック信号測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7684111B2
,2025-05-27
[2]
クラック測定システム、クラック測定方法及びクラック測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7124995B1
,2022-08-24
[3]
試料中のエクソソームの測定方法、測定試薬及び測定キット[ja]
[P].
日本专利
:JP7281092B2
,2023-05-25
[4]
試料中のエクソソームの測定方法、測定試薬及び測定キット[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019159944A1
,2021-03-04
[5]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7583685B2
,2024-11-14
[6]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7311225B2
,2023-07-19
[7]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7639979B1
,2025-03-05
[8]
測定システム、測定方法及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6651480B2
,2020-02-19
[9]
ロック偏移測定装置、ロック偏移測定システムおよびロック偏移測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7477280B2
,2024-05-01
[10]
測定装置、測定方法、測定プログラム及び測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2023073482A
,2023-05-25
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