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電極基板、測定装置および測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190032505
申请日
:
2019-02-26
公开(公告)号
:
JP7232078B2
公开(公告)日
:
2023-03-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
C12M1/34
IPC分类号
:
C12Q1/02
G01N27/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6942224B2
,2021-09-29
[2]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2019504477A
,2019-02-14
[3]
測定方法、および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017018049A1
,2018-03-22
[4]
測定方法および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6666702B2
,2020-03-18
[5]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7163120B2
,2022-10-31
[6]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5701079B2
,2015-04-15
[7]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7284652B2
,2023-05-31
[8]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6970074B2
,2021-11-24
[9]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6394825B1
,2018-09-26
[10]
測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7101810B2
,2022-07-15
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