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広がり抵抗測定方法及び広がり抵抗顕微鏡[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150069143
申请日
:
2015-03-30
公开(公告)号
:
JP6584113B2
公开(公告)日
:
2019-10-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01Q60/40
IPC分类号
:
G01Q10/06
G01R27/02
H01L21/66
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
転がり抵抗測定装置、転がり抵抗測定方法及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7303375B2
,2023-07-04
[2]
転がり抵抗測定方法および装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6558857B2
,2019-08-14
[3]
抵抗測定装置及び抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018101233A1
,2019-10-24
[4]
抵抗測定装置及び抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018101234A1
,2019-10-24
[5]
抵抗測定装置及び抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6885612B2
,2021-06-16
[6]
抵抗測定装置及び抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6829371B2
,2021-02-10
[7]
顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7687647B2
,2025-06-03
[8]
表面抵抗測定方法及び表面抵抗測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6564494B1
,2019-08-21
[9]
接触抵抗測定装置及び接触抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025181202A
,2025-12-11
[10]
比抵抗測定装置及び比抵抗測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7715654B2
,2025-07-30
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