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遅延量測定回路および遅延量測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140209085
申请日
:
2014-10-10
公开(公告)号
:
JP6382057B2
公开(公告)日
:
2018-08-29
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H03K5/14
IPC分类号
:
G01R31/28
G01R31/3185
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
遅延測定回路、および遅延測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012059986A1
,2014-05-12
[2]
遅延測定器、遅延測定方法、および、遅延測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7472989B2
,2024-04-23
[3]
遅延測定方法および遅延測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP5889812B2
,2016-03-22
[4]
遅延測定方法および遅延測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP5922047B2
,2016-05-24
[5]
遅延測定システムおよび遅延測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5774314B2
,2015-09-09
[6]
遅延測定装置、受信機、遅延測定方法および遅延測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2025001562A
,2025-01-08
[7]
遅延時間測定装置および遅延時間測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5621566B2
,2014-11-12
[8]
遅延測定装置、遅延測定方法およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7589793B2
,2024-11-26
[9]
表示遅延測定方法及び表示遅延測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6489192B2
,2019-03-27
[10]
遅延時間測定装置、遅延時間測定方法および遅延時間測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7768367B2
,2025-11-12
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