学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
測定方法、測定装置および測定プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140503807
申请日
:
2013-02-22
公开(公告)号
:
JPWO2013133141A1
公开(公告)日
:
2015-07-30
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R31/26
IPC分类号
:
G01R31/00
H01L21/66
H02S50/10
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置、測定プログラムおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5672783B2
,2015-02-18
[2]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2022169930A
,2022-11-10
[3]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7610906B2
,2025-01-09
[4]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2025177060A
,2025-12-05
[5]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7549218B2
,2024-09-11
[6]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2025175805A
,2025-12-03
[7]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7203061B2
,2023-01-12
[8]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
KITAMURA SHUN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOHZAI CHEMICAL IND CO LTD
TOHZAI CHEMICAL IND CO LTD
KITAMURA SHUN
;
HIRAKANE MASAYUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOHZAI CHEMICAL IND CO LTD
TOHZAI CHEMICAL IND CO LTD
HIRAKANE MASAYUKI
.
日本专利
:JP2024147153A
,2024-10-16
[9]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6067167B1
,2017-01-25
[10]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6807255B2
,2021-01-06
←
1
2
3
4
5
→