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走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170058165
申请日
:
2017-03-23
公开(公告)号
:
JP6684743B2
公开(公告)日
:
2020-04-22
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01Q60/46
IPC分类号
:
G01Q10/06
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
走査プローブ顕微鏡、測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7129099B2
,2022-09-01
[2]
走査型プローブ顕微鏡、および走査型プローブ顕微鏡を用いた物性量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7001166B2
,2022-01-19
[3]
走査型プローブ顕微鏡、および走査型プローブ顕微鏡を用いた物性量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020031329A1
,2021-08-02
[4]
走査型プローブ顕微鏡を用いた試料の測定方法および走査型プローブ顕微鏡用試料ホルダー[ja]
[P].
日本专利
:JP6879078B2
,2021-06-02
[5]
走査型プローブ顕微鏡および位置合わせ、集束および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025505169A
,2025-02-21
[6]
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008013268A1
,2009-12-17
[7]
走査電子顕微鏡および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6954848B2
,2021-10-27
[8]
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5802417B2
,2015-10-28
[9]
試料表面形状と物理特性の測定方法、及び走査型プローブ顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6783422B2
,2020-11-11
[10]
測定方法および電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP7736589B2
,2025-09-09
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