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分子間相互作用測定方法及びこの方法を用いた測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20070532222
申请日
:
2006-08-24
公开(公告)号
:
JPWO2007024014A1
公开(公告)日
:
2009-03-05
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/543
IPC分类号
:
G01N21/64
G01N21/78
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分子間粘弾性相互作用測定方法及び分子間粘弾性相互作用測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016060150A1
,2017-08-03
[2]
繊維束の測定方法、この測定方法を用いた測定装置及び、この測定方法または測定装置を用いた繊維束の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6447699B2
,2019-01-09
[3]
外径測定装置及びこれを用いた外径測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5666519B2
,2015-02-12
[4]
測定装置及びそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5763558B2
,2015-08-12
[5]
分子間相互作用の測定方法、その測定システム、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012081445A1
,2014-05-22
[6]
肉厚測定装置及びこれを用いた肉厚測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7487063B2
,2024-05-20
[7]
分子間相互作用の測定方法、光学膜厚測定方法、並びに測定システム及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014046156A1
,2016-08-18
[8]
粘弾性特性の測定方法およびこの方法を用いた測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6694565B2
,2020-05-20
[9]
軌間測定装置及び軌間測定方法[ja]
[P].
OGINO MASAYUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYOSAN ELECTRIC MFG
KYOSAN ELECTRIC MFG
OGINO MASAYUKI
;
KUGAYA AKIRA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYOSAN ELECTRIC MFG
KYOSAN ELECTRIC MFG
KUGAYA AKIRA
.
日本专利
:JP2025080436A
,2025-05-26
[10]
TSV測定用干渉計及びこれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5751734B2
,2015-07-22
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