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検体測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190027620
申请日
:
2019-02-19
公开(公告)号
:
JP6685441B2
公开(公告)日
:
2020-04-22
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/10
IPC分类号
:
G01N35/02
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
検体測定装置及び検体測定方法[ja]
[P].
HAYASHI MASAHITO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
SYSMEX CORP
HAYASHI MASAHITO
;
KANEKO SHUHEI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
SYSMEX CORP
KANEKO SHUHEI
;
TAKENAKA RENTARO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
SYSMEX CORP
TAKENAKA RENTARO
.
日本专利
:JP2024100473A
,2024-07-26
[2]
検体測定装置及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6415893B2
,2018-10-31
[3]
検体測定装置及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7476282B2
,2024-04-30
[4]
検体測定装置及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7177596B2
,2022-11-24
[5]
検体測定装置及び検体測定方法[ja]
[P].
YAMATO TAKASHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
YAMATO TAKASHI
;
INAGAKI ATSUSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
INAGAKI ATSUSHI
;
SAITO NAOSUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
SAITO NAOSUKE
;
NAKAMURA YOSHINORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SYSMEX CORP
NAKAMURA YOSHINORI
.
日本专利
:JP2023011906A
,2023-01-24
[6]
検体測定方法及び検体測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6768118B1
,2020-10-14
[7]
検体測定装置、及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025167434A
,2025-11-07
[8]
検体測定システム及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7269692B2
,2023-05-09
[9]
検体測定システム及び検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7546719B2
,2024-09-06
[10]
検体測定用チップ、検体測定装置、および検体測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6538844B2
,2019-07-03
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