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測定装置、測定方法、プログラム、および情報処理装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110124908
申请日
:
2011-06-03
公开(公告)号
:
JP5772242B2
公开(公告)日
:
2015-09-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
A61B5/308
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置、情報処理装置、測定プログラム、情報処理プログラム、測定方法および情報処理方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6241218B2
,2017-12-06
[2]
測定装置、測定方法、情報処理装置及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014157042A1
,2017-02-16
[3]
測定装置、測定方法、情報処理装置及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6416750B2
,2018-10-31
[4]
情報処理装置、情報処理方法、プログラム、測定装置、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6270264B2
,2018-01-31
[5]
測定方法、情報処理装置およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7335860B2
,2023-08-30
[6]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2025177060A
,2025-12-05
[7]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7549218B2
,2024-09-11
[8]
測定装置、測定方法、および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2025175805A
,2025-12-03
[9]
測定装置、測定プログラムおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5672783B2
,2015-02-18
[10]
測定装置、測定方法および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2022169930A
,2022-11-10
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