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形状測定装置、及び形状測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140175423
申请日
:
2014-08-29
公开(公告)号
:
JP6564171B2
公开(公告)日
:
2019-08-21
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B5/20
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
YAMAGAMI TAKESHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KEYENCE CO LTD
YAMAGAMI TAKESHI
;
SHIMODAIRA MASATATSU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KEYENCE CO LTD
SHIMODAIRA MASATATSU
.
日本专利
:JP2022009697A
,2022-01-14
[2]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018016102A1
,2018-07-19
[3]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6196119B2
,2017-09-13
[4]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6924953B2
,2021-08-25
[5]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011145319A1
,2013-07-22
[6]
形状測定方法、及び形状測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6113963B2
,2017-04-12
[7]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6113541B2
,2017-04-12
[8]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6380667B2
,2018-08-29
[9]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6372300B2
,2018-08-15
[10]
形状測定装置及び形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6219141B2
,2017-10-25
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