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測定システムおよび測定システムにおける通信処理方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190519141
申请日
:
2018-04-19
公开(公告)号
:
JPWO2018211904A1
公开(公告)日
:
2020-03-19
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G08C25/00
IPC分类号
:
G01J3/46
G08C15/00
H04L1/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定システム、測定方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7498842B1
,2024-06-12
[2]
光干渉システム、及び光干渉システムによる測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022054116A
,2022-04-06
[3]
測定システム、測定装置、測定方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020136969A1
,2021-11-11
[4]
物理量測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7453878B2
,2024-03-21
[5]
物理量測定システムおよび物理量測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7492121B2
,2024-05-29
[6]
計測装置、計測システムおよび車両[ja]
[P].
日本专利
:JP2023029441A
,2023-03-03
[7]
計測システム[ja]
[P].
HASHIMOTO SHINICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJITA CORP
FUJITA CORP
HASHIMOTO SHINICHI
;
TAKIZAWA YUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJITA CORP
FUJITA CORP
TAKIZAWA YUKI
.
日本专利
:JP2024175221A
,2024-12-18
[8]
切削システム、表示システム、処理装置、処理方法および処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7047979B1
,2022-04-05
[9]
切削システム、表示システム、処理装置、処理方法および処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2022020722A
,2022-02-01
[10]
切削システム、表示システム、処理装置、処理方法および処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6973689B1
,2021-12-01
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