光子計数に基づく放射線結像システム、方法、及びそのデバイス[ja]

被引：0

申请号：

JP20160549610

申请日：

2014-10-23

公开(公告)号：

JP2016534374A

公开(公告)日：

2016-11-04

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/20

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共 3 条

[1]

透過型小角Ｘ線散乱計量システム及び方法[ja] [P].

ANDREI SHCHEGROV ;

ANTONIO GELLINEAU ;

SERGEY ZALUBOVSKY .

日本专利 :JP2024175033A ,2024-12-17

[2]

単一光子イベント及び少なくとも２光子の時間同時計数イベントの検出、位置特定、及び信号伝達のためのシステム及び方法[ja] [P].

日本专利 :JP2024511032A ,2024-03-12

[3]

並列に接続された複数の超伝導検出手段を使用する単一光子検出のためのデバイスおよびシステム[ja] [P].

日本专利 :JP2022540295A ,2022-09-15