量子比特装置量子信息泄露的测试方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210189534.8
申请日
2022-02-28
公开(公告)号
CN116702910B
公开(公告)日
2024-07-16
发明(设计)人
李泽东 孔伟成
申请人
本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请人地址
230088 安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号
G06N10/20
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
可调耦合比特量子信息泄露的测试方法及装置 [P]. 
李泽东 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN116702916B ,2024-07-16
[2]
量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机 [P]. 
宋垚 ;
郭然 ;
石汉卿 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN117521819A ,2024-02-06
[3]
一种量子比特信息读取的优化方法、装置及量子计算机 [P]. 
宋垚 ;
石汉卿 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN117196054B ,2025-08-12
[4]
量子比特读取装置及量子计算系统 [P]. 
陈柳平 ;
宋守金 ;
王其兵 ;
李李 ;
李婷 .
中国专利 :CN116502725B ,2024-10-01
[5]
量子比特读取装置及量子计算系统 [P]. 
陈柳平 ;
宋守金 ;
王其兵 ;
李李 ;
李婷 .
中国专利 :CN116502724B ,2024-10-01
[6]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184A ,2022-11-29
[7]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184B ,2024-06-14
[8]
量子比特测试方法、装置及量子计算机操作系统 [P]. 
廖哲之 ;
张嵩昊 ;
陈克强 .
中国专利 :CN115329963B ,2024-07-16
[9]
量子比特测试方法、装置及量子计算机操作系统 [P]. 
廖哲之 ;
张嵩昊 ;
陈克强 .
中国专利 :CN115329963A ,2022-11-11
[10]
量子比特的控制方法及装置、量子计算机 [P]. 
孔伟成 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118095455A ,2024-05-28