一种元器件缺失检测方法、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410833127.5

申请日：

2024-06-26

公开(公告)号：

CN118393327A

公开(公告)日：

2024-07-26

发明(设计)人：

尹东富张保超陈孝天于非

申请人：

人工智能与数字经济广东省实验室（深圳）

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明区玉塘街道科润大厦

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06T7/00 G06T5/50 G06T7/70

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

万凯君

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240626
2024-07-26	公开	公开
2024-09-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种元器件缺失检测方法、电子设备及可读存储介质 [P].

尹东富 ;

张保超 ;

陈孝天 ;

于非 .

中国专利 :CN118393327B ,2024-09-06

[2]

元器件检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

刘琪 .

中国专利 :CN111914508A ,2020-11-10

[3]

元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马彩丰 .

中国专利 :CN115661115A ,2023-01-31

[4]

部件缺失检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114299054B ,2025-11-28

[5]

部件缺失检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114299054A ,2022-04-08

[6]

基于差值图像的电路元件缺失检测方法、电子设备及存储介质 [P].

梁言贺 ;

刘惠颖 ;

宫游 ;

李兴刚 ;

王晓宇 ;

殷鑫 ;

满江雪 ;

李琦 ;

程志华 ;

商铁滨 ;

孙海强 ;

温智伟 ;

殷聪 ;

吕荣 .

中国专利 :CN114596294B ,2024-10-18

[7]

基于差值图像的电路元件缺失检测方法、电子设备及存储介质 [P].

梁言贺 ;

刘惠颖 ;

宫游 ;

李兴刚 ;

王晓宇 ;

殷鑫 ;

满江雪 ;

李琦 ;

程志华 ;

商铁滨 ;

孙海强 ;

温智伟 ;

殷聪 ;

吕荣 .

中国专利 :CN114596294A ,2022-06-07

[8]

目标对象缺失检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李东海 ;

金国强 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114037764A ,2022-02-11

[9]

目标对象缺失检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李东海 ;

金国强 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114037764B ,2025-09-23

[10]

目标对象缺失检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114037763A ,2022-02-11

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