X射线发生装置的检测系统及性能检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211720626.0

申请日：

2022-12-30

公开(公告)号：

CN118275467A

公开(公告)日：

2024-07-02

发明(设计)人：

黄芳亮赵立山

申请人：

海宁精奕电子有限公司

申请人地址：

314000 浙江省嘉兴市海宁市海昌街道海宁经济开发区芯中路8号1幢

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01R31/00 H05G1/26

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

施婷婷

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省嘉兴市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-02	公开	公开
2024-07-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20221230
2025-07-08	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线发生装置的检测系统及性能检测方法 [P].

黄芳亮 ;

赵立山 .

中国专利 :CN118275467B ,2025-07-08

[2]

X射线曝光检测方法及X射线曝光检测系统 [P].

许肇驿 ;

陈彦宇 ;

黄正义 .

中国专利 :CN115561797A ,2023-01-03

[3]

一种测厚仪X射线发生装置的故障检测方法及系统 [P].

何可 ;

高炎 ;

涂福泉 ;

徐在新 ;

曹凯 ;

毛先亮 ;

徐劲林 .

中国专利 :CN112325812A ,2021-02-05

[4]

X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统 [P].

唐华平 ;

李科 ;

董超 ;

秦占峰 ;

张庆辉 .

中国专利 :CN110831310A ,2020-02-21

[5]

X射线检测系统、X射线装置及处理X射线检测数据的装置和方法 [P].

山河勉 ;

山本修一郎 ;

山崎雅志 ;

冈田雅宏 .

中国专利 :CN108271411B ,2018-07-10

[6]

X射线发生装置,X射线摄像装置及X射线检查系统 [P].

平野雅之 ;

川上博己 .

中国专利 :CN1278591C ,2002-05-22

[7]

X射线检测系统 [P].

程树刚 ;

赵洪友 ;

刘骏 .

中国专利 :CN105928956B ,2016-09-07

[8]

一种X射线的检测系统和检测方法 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

孙运达 ;

金鑫 ;

常铭 ;

许晓飞 .

中国专利 :CN110907481B ,2025-03-21

[9]

一种X射线的检测系统和检测方法 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

孙运达 ;

金鑫 ;

常铭 ;

许晓飞 .

中国专利 :CN110907481A ,2020-03-24

[10]

X射线发生装置的打火检测电路及一种X射线发生装置 [P].

范声芳 ;

陈飞 ;

吴沭字 ;

黄强 .

中国专利 :CN109688685A ,2019-04-26

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