基于紫外成像的瓷绝缘子缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111189358.X

申请日：

2021-10-12

公开(公告)号：

CN113884500B

公开(公告)日：

2024-08-06

发明(设计)人：

郑凯张志劲雷雨蒋兴良杨富淇梁田郑华龙

申请人：

国家电网有限公司国网重庆市电力公司检修分公司

申请人地址：

100031 北京市西城区西长安街86号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01R31/12

代理机构：

北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129

代理人：

胡博文

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-06	授权	授权

共 50 条

[1]

基于紫外成像的瓷绝缘子缺陷检测方法 [P].

郑凯 ;

张志劲 ;

雷雨 ;

蒋兴良 ;

杨富淇 ;

梁田 ;

郑华龙 .

中国专利 :CN113884500A ,2022-01-04

[2]

基于红外温升的瓷绝缘子缺陷检测方法 [P].

郑凯 ;

张志劲 ;

雷雨 ;

蒋兴良 ;

杨富淇 ;

梁田 ;

郑华龙 .

中国专利 :CN113884537A ,2022-01-04

[3]

基于红外温升的瓷绝缘子缺陷检测方法 [P].

郑凯 ;

张志劲 ;

雷雨 ;

蒋兴良 ;

杨富淇 ;

梁田 ;

郑华龙 .

中国专利 :CN113884537B ,2024-12-06

[4]

基于超声波信号的瓷绝缘子缺陷检测方法 [P].

郑凯 ;

张志劲 ;

雷雨 ;

蒋兴良 ;

杨富淇 ;

梁田 ;

郑华龙 ;

武剑 .

中国专利 :CN114965694B ,2024-10-18

[5]

一种基于红外和紫外成像法的零值绝缘子检测方法 [P].

王胜辉 ;

廖一帆 ;

詹振宇 ;

张天翼 ;

谢志新 .

中国专利 :CN106124942B ,2016-11-16

[6]

瓷支柱绝缘子的缺陷检测方法 [P].

陈东风 ;

奚健 ;

吴平 .

中国专利 :CN101907607A ,2010-12-08

[7]

瓷绝缘子检测方法以及瓷绝缘子检测电路 [P].

赵晨龙 ;

王黎明 ;

文路 ;

李晓刚 ;

杨代铭 ;

刘祝鸿 ;

谢敏 .

中国专利 :CN111707909A ,2020-09-25

[8]

瓷绝缘子检测方法以及瓷绝缘子检测电路 [P].

赵晨龙 ;

王黎明 ;

文路 ;

李晓刚 ;

杨代铭 ;

刘祝鸿 ;

谢敏 .

中国专利 :CN111707909B ,2024-05-28

[9]

基于电压变化率的瓷绝缘子冲击电压缺陷检测方法和装置 [P].

赵静 ;

阎乃臣 ;

王黎明 ;

曹彬 ;

李维运 ;

尹芳辉 ;

任宝鹏 ;

李忠鹏 ;

刘忠洋 ;

朱文佳 .

中国专利 :CN120446219A ,2025-08-08

[10]

瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路 [P].

赵晨龙 ;

王黎明 ;

杨代铭 ;

李晓刚 ;

刘祝鸿 ;

谢敏 ;

文路 .

中国专利 :CN111707910A ,2020-09-25

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