光度过程测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380022523.3
申请日
2023-03-08
公开(公告)号
CN118679378A
公开(公告)日
2024-09-20
发明(设计)人
安德烈·纳吉斯 阿克塞尔·雷耶尔 奥里奥尔·吉利德维拉桑特
申请人
哈希朗格有限公司
申请人地址
德国
IPC主分类号
G01N21/85
IPC分类号
G01N21/33 H02M3/335 H05B41/30 G01N33/18 G01J3/10 G01N21/31
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
张澜;张启程
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
光度过程测量装置 [P]. 
安德烈·纳吉斯 ;
阿克塞尔·雷耶尔 .
德国专利 :CN118679371A ,2024-09-20
[2]
光度过程测量装置和用于执行光度测量的方法 [P]. 
安德烈·纳吉斯 ;
阿克塞尔·雷耶尔 ;
罗伯托·达里乔 .
德国专利 :CN119213283A ,2024-12-27
[3]
光度过程测量装置和光度测量方法 [P]. 
安德烈·纳吉斯 ;
阿克塞尔·雷耶尔 ;
罗伯托·达里乔 .
德国专利 :CN119096122A ,2024-12-06
[4]
光度过程测量装置和光度测量方法 [P]. 
安德烈·纳吉斯 ;
阿克塞尔·雷耶尔 ;
罗伯托·达里乔 .
德国专利 :CN119156524A ,2024-12-17
[5]
光度测量装置 [P]. 
安振基 ;
林清隆 ;
沈峰旗 .
中国专利 :CN105318967A ,2016-02-10
[6]
屈光度测量装置及屈光度测量系统 [P]. 
车宪通 ;
廖俊辉 ;
冯东洋 ;
刘风雷 .
中国专利 :CN216167381U ,2022-04-05
[7]
旋光度测量装置 [P]. 
松本健志 ;
矢野敬和 ;
福田匡广 ;
二上茂 .
中国专利 :CN1768258B ,2006-05-03
[8]
过程光度计 [P]. 
R·N·亨特 ;
A·赫特里 ;
M·R·维拉 .
中国专利 :CN1793845A ,2006-06-28
[9]
眼睛屈光度测量装置 [P]. 
胡冰 ;
游磊 .
中国专利 :CN109645956A ,2019-04-19
[10]
光度测量单元 [P]. 
布拉德利·A·布彻 ;
冯昌东 ;
杰弗里·卢密保 ;
卡尔林·塞奥巴努 .
中国专利 :CN104919302A ,2015-09-16