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光度过程测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380022523.3
申请日
:
2023-03-08
公开(公告)号
:
CN118679378A
公开(公告)日
:
2024-09-20
发明(设计)人
:
安德烈·纳吉斯
阿克塞尔·雷耶尔
奥里奥尔·吉利德维拉桑特
申请人
:
哈希朗格有限公司
申请人地址
:
德国
IPC主分类号
:
G01N21/85
IPC分类号
:
G01N21/33
H02M3/335
H05B41/30
G01N33/18
G01J3/10
G01N21/31
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
张澜;张启程
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-10-11
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/85申请日:20230308
2024-09-20
公开
公开
共 50 条
[1]
光度过程测量装置
[P].
安德烈·纳吉斯
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
安德烈·纳吉斯
;
阿克塞尔·雷耶尔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
阿克塞尔·雷耶尔
.
德国专利
:CN118679371A
,2024-09-20
[2]
光度过程测量装置和用于执行光度测量的方法
[P].
安德烈·纳吉斯
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0
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
安德烈·纳吉斯
;
阿克塞尔·雷耶尔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
阿克塞尔·雷耶尔
;
罗伯托·达里乔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
罗伯托·达里乔
.
德国专利
:CN119213283A
,2024-12-27
[3]
光度过程测量装置和光度测量方法
[P].
安德烈·纳吉斯
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
安德烈·纳吉斯
;
阿克塞尔·雷耶尔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
阿克塞尔·雷耶尔
;
罗伯托·达里乔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
罗伯托·达里乔
.
德国专利
:CN119096122A
,2024-12-06
[4]
光度过程测量装置和光度测量方法
[P].
安德烈·纳吉斯
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
安德烈·纳吉斯
;
阿克塞尔·雷耶尔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
阿克塞尔·雷耶尔
;
罗伯托·达里乔
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机构:
哈希朗格有限公司
哈希朗格有限公司
罗伯托·达里乔
.
德国专利
:CN119156524A
,2024-12-17
[5]
光度测量装置
[P].
安振基
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安振基
;
林清隆
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林清隆
;
沈峰旗
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沈峰旗
.
中国专利
:CN105318967A
,2016-02-10
[6]
屈光度测量装置及屈光度测量系统
[P].
车宪通
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车宪通
;
廖俊辉
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廖俊辉
;
冯东洋
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冯东洋
;
刘风雷
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刘风雷
.
中国专利
:CN216167381U
,2022-04-05
[7]
旋光度测量装置
[P].
松本健志
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松本健志
;
矢野敬和
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矢野敬和
;
福田匡广
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福田匡广
;
二上茂
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二上茂
.
中国专利
:CN1768258B
,2006-05-03
[8]
过程光度计
[P].
R·N·亨特
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R·N·亨特
;
A·赫特里
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A·赫特里
;
M·R·维拉
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M·R·维拉
.
中国专利
:CN1793845A
,2006-06-28
[9]
眼睛屈光度测量装置
[P].
胡冰
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胡冰
;
游磊
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游磊
.
中国专利
:CN109645956A
,2019-04-19
[10]
光度测量单元
[P].
布拉德利·A·布彻
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布拉德利·A·布彻
;
冯昌东
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冯昌东
;
杰弗里·卢密保
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杰弗里·卢密保
;
卡尔林·塞奥巴努
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卡尔林·塞奥巴努
.
中国专利
:CN104919302A
,2015-09-16
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