一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211511725.8

申请日：

2022-11-29

公开(公告)号：

CN115752759B

公开(公告)日：

2024-08-23

发明(设计)人：

宋鸿飞张馨壬曹文晓张科航谭文郭飞周见红孟颖闫钰锋李鹏飞张云朋王子乾

申请人：

长春理工大学

申请人地址：

130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

IPC主分类号：

G01J5/90

IPC分类号：

G06F17/10

代理机构：

合肥左心专利代理事务所(普通合伙) 34152

代理人：

朱磊

法律状态：

授权

国省代码：

吉林省长春市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法 [P].

宋鸿飞 ;

张科航 ;

曹文晓 ;

谭文 ;

郭飞 ;

张馨壬 ;

周见红 ;

孟颖 ;

闫钰锋 ;

李鹏飞 ;

刘紫璐 ;

张云朋 .

中国专利 :CN116055908B ,2024-10-29

[2]

一种非制冷红外焦平面阵列的非均匀性校正方法 [P].

郑兴 ;

李宵 ;

马宣 ;

章翔 ;

刘子骥 .

中国专利 :CN103308178A ,2013-09-18

[3]

非均匀性校正时校正参数的标定方法 [P].

韩瑞 ;

顾鑫 ;

钱佳 ;

高志强 ;

隋修宝 ;

王世允 ;

王洪涛 .

中国专利 :CN107101727A ,2017-08-29

[4]

非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置 [P].

雷述宇 .

中国专利 :CN104677501B ,2015-06-03

[5]

基于小波变换直方图的短波红外焦平面非均匀性校正算法 [P].

周津同 .

中国专利 :CN104268870A ,2015-01-07

[6]

显示非均匀性校正 [P].

贝内特·桑普森·威尔伯恩 ;

爱德华·巴克利 .

美国专利 :CN118679449A ,2024-09-20

[7]

显示非均匀性校正 [P].

贝内特·桑普森·威尔伯恩 ;

卡维塔·拉特纳姆 ;

爱德华·巴克利 ;

王霜 ;

普拉温·拉奥 .

美国专利 :CN118475907A ,2024-08-09

[8]

基于Wiener滤波理论的非制冷红外焦平面非均匀校正算法 [P].

蒋亚东 ;

甄德根 ;

吴志明 .

中国专利 :CN100458380C ,2007-01-24

[9]

一种快速收敛的基于场景非均匀性校正方法 [P].

陈钱 ;

左超 ;

顾国华 ;

隋修宝 ;

刘宁 ;

季尔优 ;

钱惟贤 ;

何伟基 ;

张闻文 ;

路东明 ;

于雪莲 ;

毛义伟 ;

王士绅 ;

雷晓杰 ;

冯世杰 .

中国专利 :CN102538973B ,2012-07-04

[10]

一种短波红外图像非均匀性条纹噪声校正算法 [P].

孙德新 ;

向平湖 ;

梁建 ;

柴孟阳 .

中国专利 :CN119671892A ,2025-03-21

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