老化测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410736556.0

申请日：

2024-06-07

公开(公告)号：

CN118549809A

公开(公告)日：

2024-08-27

发明(设计)人：

黄湘林刘绿山

申请人：

深圳研控自动化科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷六栋B座1607-1611

IPC主分类号：

G01R31/34

IPC分类号：

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

张群

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/34申请日:20240607
2024-08-27	公开	公开

共 50 条

[1]

老化测试方法、系统及计算机可读存储介质 [P].

杨名业 .

中国专利 :CN118731542A ,2024-10-01

[2]

测试系统、测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

孙斌 ;

朱红霞 ;

罗俊 ;

周沁含 .

中国专利 :CN118796698A ,2024-10-18

[3]

老化测试方法、可穿戴设备及计算机可读存储介质 [P].

李坤宁 .

中国专利 :CN110188010A ,2019-08-30

[4]

车载网络测试方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

谢兵 ;

邹勇 ;

李俊 ;

王彬 .

中国专利 :CN118869534A ,2024-10-29

[5]

显示面板老化测试方法和计算机可读存储介质 [P].

廖屿 ;

段永华 .

中国专利 :CN120412439A ,2025-08-01

[6]

测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

齐燕 .

中国专利 :CN110262964A ,2019-09-20

[7]

测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

曾禹乔 ;

吴晓东 ;

张入伟 ;

余璐 ;

张其 .

中国专利 :CN118312425A ,2024-07-09

[8]

测试方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 [P].

潘朝裕 ;

路军涛 ;

梁少棠 ;

石磊 ;

江武特 ;

李刚 .

中国专利 :CN118896698A ,2024-11-05

[9]

测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

吕小立 ;

刘丽珍 ;

刘芳 .

中国专利 :CN111274128A ,2020-06-12

[10]

设备测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

吴琨 .

中国专利 :CN118981421A ,2024-11-19

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