性能分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410346186.X
申请日
2024-03-25
公开(公告)号
CN117950973B
公开(公告)日
2024-06-21
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司
申请人地址
100080 北京市海淀区翠微中里14号楼四层B655
IPC主分类号
G06F11/34
IPC分类号
G06F15/78 H04L41/12
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
李茂家;周蕾
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
性能分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117950973A ,2024-04-30
[2]
性能分析方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
章正中 ;
刘正峰 .
中国专利 :CN119292885A ,2025-01-10
[3]
性能分析方法、可读存储介质、程序产品及电子设备 [P]. 
苏重威 ;
龚俊松 ;
王耀峰 .
中国专利 :CN118227431A ,2024-06-21
[4]
程序接口性能分析方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吴巧妍 ;
王莎莎 ;
余锋 .
中国专利 :CN118260206A ,2024-06-28
[5]
性能分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN115391205A ,2022-11-25
[6]
归因分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
金广 ;
张莹 ;
钟飞 ;
辛增智 .
中国专利 :CN120409947A ,2025-08-01
[7]
特性分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吴丰硕 .
中国专利 :CN119718808A ,2025-03-28
[8]
特性分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吴丰硕 .
中国专利 :CN119718808B ,2025-06-03
[9]
数据分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
任伟杰 ;
余勇宏 ;
裘虬 ;
孟令军 ;
赵晓明 .
中国专利 :CN119917561A ,2025-05-02
[10]
数据分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
刘豪 ;
肖艺涵 ;
李博文 ;
周培亨 ;
靳依沐 ;
白善 ;
张新田 ;
黄健翔 .
中国专利 :CN119149692A ,2024-12-17