FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110813987.9

申请日：

2021-07-19

公开(公告)号：

CN113705141B

公开(公告)日：

2024-07-30

发明(设计)人：

李晓艳张勇温长清

申请人：

深圳市紫光同创电子有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401

IPC主分类号：

G06F30/34

IPC分类号：

代理机构：

深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374

代理人：

周雷

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G06F 30/34变更事项:专利权人变更前:深圳市紫光同创电子有限公司变更后:深圳市紫光同创电子股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401变更后:518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
2024-07-30	授权	授权

共 50 条

[1]

FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

李晓艳 ;

张勇 ;

温长清 .

中国专利 :CN113705141A ,2021-11-26

[2]

FPGA芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵井坤 ;

孙莉莉 ;

王常慧 ;

杜金凤 ;

李杨 .

中国专利 :CN119990016A ,2025-05-13

[3]

FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

朱志东 .

中国专利 :CN120629907A ,2025-09-12

[4]

FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

张家华 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

曾岩 ;

赵海洋 ;

孔晓琳 ;

李安平 .

中国专利 :CN113376514B ,2021-09-10

[5]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

蔡文倩 ;

张勇 ;

温长清 .

中国专利 :CN113705140B ,2024-07-30

[6]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

蔡文倩 ;

张勇 ;

温长清 .

中国专利 :CN113705140A ,2021-11-26

[7]

芯片验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

谭黎敏 ;

李明慧 ;

宋捷 .

中国专利 :CN114139475A ,2022-03-04

[8]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

[9]

芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111983429A ,2020-11-24

[10]

芯片验证方法、系统、设备及可读存储介质 [P].

张胥 ;

谢春旺 ;

吕修旺 .

中国专利 :CN120994560A ,2025-11-21

← 1 2 3 4 5 →