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保护模块、测试装置、测试设备及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410738418.6
申请日
:
2024-06-07
公开(公告)号
:
CN118311306A
公开(公告)日
:
2024-07-09
发明(设计)人
:
张东
刘芳
陈燕宁
赵东艳
贾晨
范维
杨璐羽
段方维
申请人
:
北京智芯微电子科技有限公司
国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
国家电网有限公司
申请人地址
:
100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
IPC主分类号
:
G01R1/36
IPC分类号
:
G01R31/28
G01R31/12
H01L21/66
代理机构
:
北京正砚知识产权代理有限公司 16161
代理人
:
高敏
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
辽宁省
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-26
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/36申请日:20240607
2024-07-09
公开
公开
2024-09-24
授权
授权
共 50 条
[1]
保护模块、测试装置、测试设备及测试方法
[P].
张东
论文数:
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
张东
;
刘芳
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
刘芳
;
陈燕宁
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
陈燕宁
;
赵东艳
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
赵东艳
;
贾晨
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
贾晨
;
范维
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
范维
;
杨璐羽
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
杨璐羽
;
段方维
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机构:
北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
段方维
.
中国专利
:CN118311306B
,2024-09-24
[2]
测试模块、测试装置及测试方法
[P].
秋田德则
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秋田德则
.
中国专利
:CN102057288A
,2011-05-11
[3]
测试装置及测试模块
[P].
森田直志
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森田直志
;
小石哲也
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小石哲也
;
矢口刚史
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矢口刚史
.
中国专利
:CN102193058A
,2011-09-21
[4]
测试装置及测试模块
[P].
三桥尚史
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三桥尚史
.
中国专利
:CN101542305B
,2009-09-23
[5]
测试装置、测试方法及测试设备
[P].
胡兴亿
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
胡兴亿
;
张东卫
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
张东卫
;
卢程显
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富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
卢程显
;
李健龙
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富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
李健龙
;
杜康
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
杜康
;
陆贺身
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
陆贺身
;
刘金全
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
刘金全
;
李玉辉
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机构:
富联裕展科技(河南)有限公司
富联裕展科技(河南)有限公司
李玉辉
.
中国专利
:CN114137386B
,2024-10-18
[6]
测试装置、测试方法及测试设备
[P].
任富佳
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任富佳
;
艾灵儿
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艾灵儿
;
顾明峰
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顾明峰
;
周小虎
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周小虎
.
中国专利
:CN110132590A
,2019-08-16
[7]
测试装置、测试方法及测试设备
[P].
胡兴亿
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胡兴亿
;
张东卫
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张东卫
;
卢程显
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卢程显
;
李健龙
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李健龙
;
杜康
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杜康
;
陆贺身
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陆贺身
;
刘金全
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刘金全
;
李玉辉
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李玉辉
.
中国专利
:CN114137386A
,2022-03-04
[8]
测试装置、测试设备、测试方法及存储介质
[P].
徐熊
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
徐熊
;
雷震宇
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
雷震宇
;
唐知华
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
唐知华
;
丁蕾
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
丁蕾
;
贺舒杰
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
贺舒杰
.
中国专利
:CN120808857A
,2025-10-17
[9]
测试模块、测试装置及测试方法
[P].
森川昭夫
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森川昭夫
.
中国专利
:CN102165327A
,2011-08-24
[10]
测试模块、测试装置及测试方法
[P].
森川昭夫
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森川昭夫
.
中国专利
:CN102165326B
,2011-08-24
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