一种温度测试系统及温度测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310353744.0
申请日
2023-03-31
公开(公告)号
CN118731092A
公开(公告)日
2024-10-01
发明(设计)人
请求不公布姓名 林天明
申请人
杭州先途电子有限公司
申请人地址
310018 浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道12号大街289-2号2幢
IPC主分类号
G01N25/20
IPC分类号
G01N25/00
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
温度测试装置、温度测试系统及温度测试方法 [P]. 
何凯 ;
彭荔枝 ;
刘嫚 .
中国专利 :CN109238470A ,2019-01-18
[2]
温度测试系统及方法、气体探测器测试系统及方法 [P]. 
陈石国 ;
周伟荣 ;
林天明 .
中国专利 :CN118731093A ,2024-10-01
[3]
自动温度测试系统及温度测试方法 [P]. 
刘彬 ;
王文武 ;
罗文东 ;
庄宗仁 ;
翁世芳 .
中国专利 :CN102788649A ,2012-11-21
[4]
设备温度的测试方法及温度测试系统 [P]. 
梁雷 ;
刘琦 ;
付海军 ;
姜海涛 .
中国专利 :CN114354006A ,2022-04-15
[5]
温度测试系统及其温度测试方法 [P]. 
陈柏隆 ;
蔡旭书 .
中国专利 :CN119756629A ,2025-04-04
[6]
温度测试装置及温度测试系统 [P]. 
何凯 ;
彭荔枝 ;
刘嫚 .
中国专利 :CN209131842U ,2019-07-19
[7]
温度测试系统、方法和装置及温度测试设备 [P]. 
周伟 .
中国专利 :CN109489860A ,2019-03-19
[8]
一种相变温度测试系统 [P]. 
缪向水 ;
童浩 ;
程晓敏 .
中国专利 :CN101726506A ,2010-06-09
[9]
温度测试系统 [P]. 
高志勇 ;
刘玉林 ;
张云飞 .
中国专利 :CN103175631A ,2013-06-26
[10]
温度测试系统 [P]. 
李申 ;
刘中鼎 .
中国专利 :CN112304455A ,2021-02-02