一种IPM老化测试夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323257917.3

申请日：

2023-11-30

公开(公告)号：

CN221485491U

公开(公告)日：

2024-08-06

发明(设计)人：

孙焯戴志展王宇航

申请人：

斯达半导体股份有限公司

申请人地址：

314000 浙江省嘉兴市南湖区科兴路988号

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

代理机构：

上海申新律师事务所 31272

代理人：

郎祺

法律状态：

授权

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-06	授权	授权

共 50 条

[1]

IPM 测试夹具 [P].

廖伟强 ;

李鑫 ;

池振华 .

中国专利 :CN204044184U ,2014-12-24

[2]

一种老化测试夹具 [P].

覃泽锞 .

中国专利 :CN210090513U ,2020-02-18

[3]

老化测试夹具 [P].

任春茂 ;

刘谊 ;

莫业军 ;

董冰萧 ;

王伟群 ;

谢亮 ;

黄广龙 .

中国专利 :CN223650589U ,2025-12-09

[4]

一种OLED老化测试夹具 [P].

邱月 ;

粘为进 .

中国专利 :CN217443396U ,2022-09-16

[5]

一种IPM动态参数测试夹具 [P].

杨炜光 ;

李耀武 ;

张永健 ;

白晓辉 .

中国专利 :CN111781405A ,2020-10-16

[6]

一种导热凝胶老化测试夹具 [P].

刘青山 .

中国专利 :CN212020538U ,2020-11-27

[7]

一种老化测试夹具及老化测试系统 [P].

吴从 .

中国专利 :CN120314753A ,2025-07-15

[8]

一种芯片镀层老化测试夹具 [P].

陈其国 ;

卢意鹏 ;

许国军 .

中国专利 :CN221056494U ,2024-05-31

[9]

一种老化测试夹具及老化测试系统 [P].

吴从 .

中国专利 :CN120314753B ,2025-11-14

[10]

一种老化测试夹具 [P].

龚健 .

中国专利 :CN211602851U ,2020-09-29

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