一种全自动IC测试分选机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410633858.5

申请日：

2024-05-21

公开(公告)号：

CN118534295A

公开(公告)日：

2024-08-23

发明(设计)人：

梁大明

申请人：

上海中艺自动化系统有限公司

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301－642座

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

B07C5/02 B07C5/344

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-23	公开	公开
2024-12-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240521

共 50 条

[1]

测试分选机（IC） [P].

董文百 ;

刘利波 ;

谢文胜 ;

孙杰 ;

马国东 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN305434467S ,2019-11-12

[2]

一种IC芯片测试分选机构 [P].

钟伟雄 .

中国专利 :CN217191025U ,2022-08-16

[3]

一种全自动磁环测试分选机 [P].

毛圣华 ;

皮金斌 ;

张勉团 .

中国专利 :CN106493095A ,2017-03-15

[4]

一种全自动磁环测试分选机 [P].

毛圣华 ;

皮金斌 ;

张勉团 .

中国专利 :CN206527070U ,2017-09-29

[5]

一种全自动磁环测试分选机 [P].

钟剑斌 .

中国专利 :CN211563723U ,2020-09-25

[6]

全自动变压器测试分选机 [P].

吴奎 ;

胡源庆 .

中国专利 :CN214107933U ,2021-09-03

[7]

一种双工位IC测试分选机 [P].

谢国清 ;

曹国光 ;

曹皇东 ;

罗奕真 .

中国专利 :CN113333310A ,2021-09-03

[8]

一种IC 芯片测试分选机的测试抓手总成装置 [P].

林宜龙 ;

付义超 ;

唐召来 ;

刘飞 .

中国专利 :CN202638769U ,2013-01-02

[9]

测试分选机 [P].

刘翔 ;

夏云 ;

于天水 ;

方云南 ;

罗铭君 .

中国专利 :CN223587772U ,2025-11-25

[10]

一种全自动引线元件测试分选机 [P].

陈裕锦 ;

江声堂 ;

王建明 ;

陆永鑫 ;

彭汉兴 .

中国专利 :CN201871495U ,2011-06-22

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