基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311617401.7
申请日
2023-11-30
公开(公告)号
CN117573551B
公开(公告)日
2024-08-20
发明(设计)人
王定 请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
沐曦集成电路(上海)有限公司
申请人地址
201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579
代理人
丁慧玲
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质 [P]. 
王定 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117573551A ,2024-02-20
[2]
功能覆盖率的处理方法、电子设备和介质 [P]. 
束雅珺 ;
王定 .
中国专利 :CN120561012A ,2025-08-29
[3]
大规模芯片代码覆盖率获取方法、电子设备和介质 [P]. 
邹俊俊 .
中国专利 :CN119782128B ,2025-11-11
[4]
大规模芯片代码覆盖率获取方法、电子设备和介质 [P]. 
邹俊俊 .
中国专利 :CN119782128A ,2025-04-08
[5]
代码覆盖率的处理方法、电子设备和介质 [P]. 
王定 ;
张昀 .
中国专利 :CN120561019A ,2025-08-29
[6]
基于寄存器的功能覆盖率的处理方法、电子设备和介质 [P]. 
王定 ;
张昀 .
中国专利 :CN120872413A ,2025-10-31
[7]
芯片功能特征设置方法、电子设备和介质 [P]. 
王定 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117313651B ,2024-02-09
[8]
基于验证组件的总线覆盖率收集方法、电子设备和介质 [P]. 
陈晨 ;
王定 ;
张昀 .
中国专利 :CN120874725B ,2025-12-05
[9]
代码覆盖率测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
郭建文 ;
符云越 ;
席鑫 .
中国专利 :CN119127664A ,2024-12-13
[10]
基于验证组件的总线覆盖率收集方法、电子设备和介质 [P]. 
陈晨 ;
王定 ;
张昀 .
中国专利 :CN120874725A ,2025-10-31