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试样保持器、试样保持器套件以及试样制作方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410074927.3
申请日
:
2024-01-18
公开(公告)号
:
CN118366834A
公开(公告)日
:
2024-07-19
发明(设计)人
:
根岸勉
森忍
申请人
:
日本电子株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01J37/20
IPC分类号
:
H01J37/30
G01N1/28
G01N1/32
B24B37/27
B24B41/06
代理机构
:
北京市隆安律师事务所 11323
代理人
:
徐谦;刘宁军
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-19
公开
公开
2025-11-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01J 37/20申请日:20240118
共 50 条
[1]
试样板保持器
[P].
阿部圣
论文数:
0
引用数:
0
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0
阿部圣
;
村上雄大
论文数:
0
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0
村上雄大
;
阿部修平
论文数:
0
引用数:
0
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阿部修平
.
中国专利
:CN112444531A
,2021-03-05
[2]
试样加工用保持器和试样加工方法
[P].
佐佐木义和
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
佐佐木义和
;
福田知久
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
福田知久
;
三平智宏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
三平智宏
;
作田训将
论文数:
0
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0
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0
机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
作田训将
;
门井美纯
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
门井美纯
;
木村达人
论文数:
0
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0
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
木村达人
.
日本专利
:CN117405926A
,2024-01-16
[3]
测试样品保持器
[P].
斯蒂芬·R·莱默
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0
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0
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斯蒂芬·R·莱默
;
斯蒂芬·E·斯凯拉
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0
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0
斯蒂芬·E·斯凯拉
.
中国专利
:CN101305273B
,2008-11-12
[4]
X射线分析用试样保持器及试样设置用夹具
[P].
竹内俊公
论文数:
0
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0
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0
竹内俊公
.
中国专利
:CN104849128A
,2015-08-19
[5]
带电粒子束装置以及试样保持器
[P].
池内昭朗
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池内昭朗
;
羽根田茂
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羽根田茂
;
星野吉延
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0
星野吉延
.
中国专利
:CN109075003A
,2018-12-21
[6]
一种高分子材料试样拉伸保持器
[P].
侯杰
论文数:
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0
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0
侯杰
.
中国专利
:CN202512022U
,2012-10-31
[7]
用于不同形状和大小的试样承载件的保持器
[P].
马丁·库贝克
论文数:
0
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0
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0
马丁·库贝克
.
中国专利
:CN103364939A
,2013-10-23
[8]
自动试样片制作装置
[P].
富松聪
论文数:
0
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0
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富松聪
;
佐藤诚
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0
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佐藤诚
;
山本洋
论文数:
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0
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0
山本洋
.
中国专利
:CN105388048B
,2016-03-09
[9]
保持器以及保持器的制造方法
[P].
藤见鹰一
论文数:
0
引用数:
0
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0
藤见鹰一
.
中国专利
:CN104279233B
,2015-01-14
[10]
用于使用保持器的方法以及保持器
[P].
尤哈·皮波宁
论文数:
0
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0
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0
尤哈·皮波宁
;
萨米·凯雷宁
论文数:
0
引用数:
0
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0
萨米·凯雷宁
.
中国专利
:CN102216555A
,2011-10-12
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