基材表面缺陷检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311582761.8

申请日：

2023-11-24

公开(公告)号：

CN118731024A

公开(公告)日：

2024-10-01

发明(设计)人：

史亚莉

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村东路95号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/956 G01N21/01

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

吴斌

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20231124
2024-10-01	公开	公开

共 50 条

[1]

基材缺陷检测装置 [P].

许轩兢 .

中国专利 :CN205861564U ,2017-01-04

[2]

用于检测基材的基材缺陷检测装置 [P].

许轩兢 .

中国专利 :CN204214788U ,2015-03-18

[3]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测装置 [P].

大野纮明 ;

儿玉俊文 ;

腰原敬弘 ;

小川晃弘 ;

饭塚幸理 .

中国专利 :CN105849534B ,2016-08-10

[4]

表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法 [P].

楯真沙美 ;

大野纮明 ;

大重贵彦 .

中国专利 :CN107709977B ,2018-02-16

[5]

表面缺陷检测装置及表面缺陷检测设备 [P].

孙立 ;

沈红佳 ;

连泽钦 .

中国专利 :CN217277922U ,2022-08-23

[6]

表面缺陷检测装置及方法 [P].

舒远 ;

李玉廷 ;

王光能 ;

文茜 ;

米野 ;

丁兵 ;

高云峰 .

中国专利 :CN104101601A ,2014-10-15

[7]

表面缺陷检测方法以及表面缺陷检测装置 [P].

梅垣嘉之 ;

大野纮明 .

日本专利 :CN119895252A ,2025-04-25

[8]

表面缺陷检测方法和表面缺陷检测装置 [P].

雷富强 ;

马刘文 ;

关鹏 ;

张巍 ;

任海英 ;

李燃 ;

杨朝晖 ;

张富超 .

中国专利 :CN120655644A ,2025-09-16

[9]

用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置 [P].

许轩兢 .

中国专利 :CN204287068U ,2015-04-22

[10]

一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方法 [P].

朱文兵 ;

罗时帅 ;

钱曙光 ;

汪炉生 ;

柳洪哲 ;

柳云鸿 ;

钱根 ;

陶磊 .

中国专利 :CN114813760A ,2022-07-29

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