一种基于分区符合技术的氚表面污染探测器及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210597116.2

申请日：

2022-05-30

公开(公告)号：

CN114966802B

公开(公告)日：

2024-10-11

发明(设计)人：

杨阳陈志林赖财锋陈平黄坡

申请人：

中国工程物理研究院核物理与化学研究所

申请人地址：

621999 四川省绵阳市绵山路64号

IPC主分类号：

G01T1/167

IPC分类号：

G01T1/20

代理机构：

中国工程物理研究院专利中心 51210

代理人：

仲万珍

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种高浓度氚测量探测器及其测量方法 [P].

杨阳 ;

陈平 ;

陈志林 ;

赖财锋 ;

李余 ;

程胜寒 .

中国专利 :CN113804706A ,2021-12-17

[2]

一种高浓度氚探测器及测量方法 [P].

陈志林 ;

彭述明 ;

陈平 ;

常瑞敏 ;

杨阳 ;

赖财锋 ;

吴冠银 .

中国专利 :CN109085633A ,2018-12-25

[3]

一种基于SiPM的表面污染探测器 [P].

卢亚鑫 ;

沈杨 ;

董翀 .

中国专利 :CN110794468A ,2020-02-14

[4]

一种基于SiPM的表面污染探测器 [P].

卢亚鑫 ;

沈杨 ;

董翀 .

中国专利 :CN210923983U ,2020-07-03

[5]

一种氚表面污染测量仪 [P].

罗渠 .

中国专利 :CN107144869A ,2017-09-08

[6]

一种表面氚浓度探测器 [P].

陈志林 ;

陈平 ;

赖财锋 ;

李余 ;

程胜寒 .

中国专利 :CN111880212A ,2020-11-03

[7]

一种测量方法和探测器 [P].

李立华 ;

徐新宇 .

中国专利 :CN118501921A ,2024-08-16

[8]

一种测量方法和探测器 [P].

李立华 ;

徐新宇 .

中国专利 :CN118501921B ,2025-11-18

[9]

一种X光束位置测量探测器及其测量方法 [P].

何迎花 ;

龚培荣 ;

徐慧超 ;

赵子龙 ;

张永立 ;

朱周侠 ;

刘平 ;

孙小沛 .

中国专利 :CN111208554B ,2024-07-12

[10]

一种X光束位置测量探测器及其测量方法 [P].

何迎花 ;

龚培荣 ;

徐慧超 ;

赵子龙 ;

张永立 ;

朱周侠 ;

刘平 ;

孙小沛 .

中国专利 :CN111208554A ,2020-05-29

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