一种系统测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410445138.6

申请日：

2024-04-12

公开(公告)号：

CN118331868A

公开(公告)日：

2024-07-12

发明(设计)人：

安甲舒刘锐

申请人：

北京京东乾石科技有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号院2号楼19层A1905室

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

李阳;徐敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240412
2024-07-12	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

李英博 .

中国专利 :CN117459624A ,2024-01-26

[2]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

陈武 ;

韩子诺 ;

赵陶明 .

中国专利 :CN119336621A ,2025-01-21

[3]

测试方法、系统、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

朱元瑞 .

中国专利 :CN117743177A ,2024-03-22

[4]

一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

崔亚光 .

中国专利 :CN115098394B ,2024-12-20

[5]

一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

于剑夫 .

中国专利 :CN118860865A ,2024-10-29

[6]

一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

宋天勇 ;

吴武桓 .

中国专利 :CN118838829A ,2024-10-25

[7]

一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

崔亚光 .

中国专利 :CN115098394A ,2022-09-23

[8]

一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

李杰 .

中国专利 :CN117743156A ,2024-03-22

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

曲乐炜 ;

柯懂湘 .

中国专利 :CN114070752A ,2022-02-18

[10]

测试方法、测试装置、计算机可读存储介质及电子设备 [P].

付雯 ;

蒋皓 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN120336174A ,2025-07-18

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