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芯片性能参数检测方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410904038.5
申请日：
2024-07-05
公开(公告)号：
CN118708460A
公开(公告)日：
2024-09-27
发明(设计)人：
请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人：
上海壁仞科技股份有限公司
申请人地址：
201114 上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室
IPC主分类号：
G06F11/34
IPC分类号：
代理机构：
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人：
程琛
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-09-27 公开 公开
2024-10-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20240705
共 50 条
[1]
性能参数调整方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P]. 
苑杨 .
中国专利 :CN114788955B ,2025-01-28
[2]
性能参数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
莫云程 .
中国专利 :CN119645783A ,2025-03-18
[3]
性能参数调整方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P]. 
苑杨 .
中国专利 :CN114788955A ,2022-07-26
[4]
电池性能参数的获取方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
宋书涛 ;
孙剑彤 ;
伍文长 ;
潘伟伟 ;
刘彩胜 ;
张小细 ;
晋文静 .
中国专利 :CN117609846A ,2024-02-27
[5]
电池性能参数的获取方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
宋书涛 ;
孙剑彤 ;
伍文长 ;
潘伟伟 ;
刘彩胜 ;
张小细 ;
晋文静 .
中国专利 :CN117609846B ,2024-06-18
[6]
确定性能参数的方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张元瀚 ;
尹榛菲 ;
殷国君 ;
邵婧 .
中国专利 :CN111582381A ,2020-08-25
[7]
确定性能参数的方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张元瀚 ;
尹榛菲 ;
殷国君 ;
邵婧 .
中国专利 :CN111582381B ,2024-03-26
[8]
芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质 [P]. 
谢蒙 .
中国专利 :CN121208586A ,2025-12-26
[9]
芯片检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
汪建 .
中国专利 :CN119938417A ,2025-05-06
[10]
声波马达的性能参数检测方法、装置及电子设备 [P]. 
张平 ;
吴同海 ;
陈峰 ;
陈杰 .
中国专利 :CN120595104A ,2025-09-05
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