外观检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420176284.9

申请日：

2024-01-24

公开(公告)号：

CN221351236U

公开(公告)日：

2024-07-16

发明(设计)人：

李浩良姚君乐周长君

申请人：

惠州伟志电子有限公司

申请人地址：

516100 广东省惠州市博罗县罗阳镇鸿达国际工业制造城

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/01 B65G47/74

代理机构：

北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙) 11504

代理人：

陈广龙

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省温州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-16	授权	授权

共 50 条

[1]

外观检测设备 [P].

谢卫锋 ;

孙杰 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN210981343U ,2020-07-10

[2]

玻璃外观检测设备 [P].

谢卫锋 ;

江帆 ;

梁国辉 ;

曹小建 ;

孙杰 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN215768311U ,2022-02-08

[3]

晶片外观检测设备 [P].

宗庆斌 ;

郗世亮 ;

张向阳 ;

刘贵枝 .

中国专利 :CN201653918U ,2010-11-24

[4]

外观尺寸检测设备 [P].

莫灼钊 ;

何岸聪 ;

沈火生 .

中国专利 :CN213455333U ,2021-06-15

[5]

电感外观检测设备 [P].

黄成 ;

彭云波 .

中国专利 :CN222379115U ,2025-01-21

[6]

外观检测设备 [P].

汤永生 ;

谢书礼 ;

孙晗 .

中国专利 :CN117825392A ,2024-04-05

[7]

BV组件外观检测设备 [P].

张权 ;

吕明高 .

中国专利 :CN215964912U ,2022-03-08

[8]

外观检测设备 [P].

刘志磊 ;

万建宏 .

中国专利 :CN215574700U ,2022-01-18

[9]

外观检测设备 [P].

李刚 ;

李昌谷 .

中国专利 :CN214310214U ,2021-09-28

[10]

外观检测设备 [P].

汤毅韬 ;

许兆恒 ;

高翔 ;

田泽均 ;

杨舒宇 .

中国专利 :CN119757384B ,2025-12-02

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