集成电路安全分析仪

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202430021977.6

申请日：

2024-01-12

公开(公告)号：

CN308776020S

公开(公告)日：

2024-08-09

发明(设计)人：

林建军

申请人：

深圳久协富实业有限公司

申请人地址：

518109 广东省深圳市龙华区龙华街道清华社区清龙路6号港之龙科技园科技孵化中心D区GR14

IPC主分类号：

10-05

IPC分类号：

代理机构：

深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585

代理人：

许朋波

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-09	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路安全分析仪 [P].

张祖松 ;

潘雨洋 ;

温家宝 ;

王驰 ;

蒙万隆 .

中国专利 :CN307220876S ,2022-04-01

[2]

台式集成电路安全分析仪 [P].

张祖松 ;

温家宝 ;

马哲 ;

潘雨洋 ;

李彦昭 .

中国专利 :CN307220875S ,2022-04-01

[3]

集成电路安全分析仪（立柜式） [P].

张祖松 ;

马哲 ;

李彦昭 ;

温家宝 ;

蒙万隆 ;

张永峰 .

中国专利 :CN307705013S ,2022-12-02

[4]

集成电路电磁发生干扰分析仪 [P].

郑益民 ;

王逸晨 ;

方旭 .

中国专利 :CN111398776A ,2020-07-10

[5]

集成电路电磁发生干扰分析仪 [P].

崔强 ;

郑益民 ;

王逸晨 ;

方旭 .

中国专利 :CN211856808U ,2020-11-03

[6]

集成电路电磁发生干扰分析仪 [P].

郑益民 ;

王逸晨 ;

方旭 .

中国专利 :CN111398776B ,2024-07-26

[7]

逻辑分析仪（集成电路布图设计专用） [P].

吕楠 ;

李旭 .

中国专利 :CN302788285S ,2014-04-09

[8]

集成电路高功率微波损伤效应模拟分析仪 [P].

高雪莲 ;

冯楠 ;

崔振南 ;

赵磊 ;

张晓宇 .

中国专利 :CN203455448U ,2014-02-26

[9]

电路分析仪 [P].

王龙单 .

中国专利 :CN306711745S ,2021-07-27

[10]

电路分析仪 [P].

叶富颖 .

中国专利 :CN308574465S ,2024-04-12

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