一种IGBT转移特性测试系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410672668.4
申请日
2024-05-28
公开(公告)号
CN118393309A
公开(公告)日
2024-07-26
发明(设计)人
皮彬彬 陈宏 刘洋 刁绅 叶士杰 郭亚楠
申请人
江苏易矽科技有限公司
申请人地址
214000 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A2栋14层(东侧)
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
G01R1/02
代理机构
无锡知更鸟知识产权代理事务所(普通合伙) 32468
代理人
张涛
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
江苏省
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共 50 条
[1]
一种IGBT开关特性测试系统及其测试方法 [P]. 
张蕴馨 ;
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中国专利 :CN116184151B ,2024-01-02
[2]
一种IGBT模块动态特性测试系统 [P]. 
徐文兵 ;
何庆庆 ;
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[3]
一种多维度IGBT衰减特性测试系统 [P]. 
刘春光 ;
段争春 ;
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[4]
一种IGBT开关特性测试电路及测试方法 [P]. 
唐新灵 ;
吴军民 ;
赛朝阳 ;
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林仲康 ;
杜玉杰 ;
张西子 .
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[5]
一种IGBT特性测试装置 [P]. 
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周义 ;
陈春辉 ;
郭祥 ;
高玉娟 ;
张瑞 ;
卓兰霞 ;
高洁 ;
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[6]
一种OLED光电特性测试系统及测试方法 [P]. 
张方辉 ;
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黄晋 ;
张思璐 ;
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李怀坤 ;
孙立蓉 ;
张麦丽 .
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[7]
IGBT测试设备及测试系统 [P]. 
于圣慧 .
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[8]
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向大为 ;
刘也可 ;
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[9]
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[10]
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