异物检查装置及异物检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880094385.9

申请日：

2018-06-12

公开(公告)号：

CN112236671B

公开(公告)日：

2024-08-13

发明(设计)人：

佐野荣一中村瑞树

申请人：

FK光学研究所股份有限公司

申请人地址：

日本国埼玉县

IPC主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/94

代理机构：

北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432

代理人：

王轶;李伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	授权	授权

共 50 条

[1]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

中国专利 :CN112236671A ,2021-01-15

[2]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

日本专利 :CN112262313B ,2024-08-16

[3]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

中国专利 :CN112262313A ,2021-01-22

[4]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

日本专利 :CN113490844B ,2024-08-16

[5]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

铃木芳邦 ;

今田将博 ;

稻垣真次 ;

村濑胜己 .

中国专利 :CN102539436A ,2012-07-04

[6]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

中国专利 :CN113490844A ,2021-10-08

[7]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

福田裕久 ;

浅野国隆 ;

片根忠弘 ;

山崎浩美 .

中国专利 :CN102918382A ,2013-02-06

[8]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

加集功士 .

中国专利 :CN110333255A ,2019-10-15

[9]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

加集功士 .

中国专利 :CN110333256A ,2019-10-15

[10]

异物检查方法以及异物检查装置 [P].

木村树 ;

浅田竜幸 ;

小池良树 .

日本专利 :CN113030092B ,2024-04-05

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