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一种用于半导体晶片的探针测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202323287538.9
申请日：
2023-12-04
公开(公告)号：
CN221726170U
公开(公告)日：
2024-09-17
发明(设计)人：
张岩
许宾宾
申请人：
昆山君治电子有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市昆山市玉山镇龙生路398号
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
G01R31/28
G01R1/04
代理机构：
苏州智伟华专利代理事务所(普通合伙) 32641
代理人：
杨青峰
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省
苏州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-09-17 | 授权 | 授权 |