用于测量高剂量率电离辐射的方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980031389.7

申请日：

2019-05-09

公开(公告)号：

CN112166348B

公开(公告)日：

2024-08-20

发明(设计)人：

尤尔根·斯坦因

申请人：

塔吉特系统电子有限责任两合公司

申请人地址：

德国伍珀塔尔海因茨-方曼大街4号

IPC主分类号：

G01T1/02

IPC分类号：

G01T1/20

代理机构：

杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217

代理人：

魏亮

法律状态：

授权

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-20	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测量高剂量率电离辐射的方法和设备 [P].

尤尔根·斯坦因 .

中国专利 :CN112166348A ,2021-01-01

[2]

用于测量β高剂量率的外推电离室 [P].

陈慧莉 ;

张延生 ;

姚小莉 ;

张庆利 .

中国专利 :CN2379812Y ,2000-05-24

[3]

用于在短时间间隔内使用和控制较高剂量率电离辐射的方法和系统 [P].

肯尼斯·W·布鲁克斯 ;

詹姆斯·A·尼尔逊 ;

德里克·T·德西奥利 ;

克里斯托弗·J·佩特尼 ;

唐纳德·A·戈尔 .

美国专利 :CN120324800A ,2025-07-18

[4]

用于在短时间间隔内使用和控制较高剂量率电离辐射的方法和系统 [P].

肯尼斯·W·布鲁克斯 ;

詹姆斯·A·尼尔逊 ;

德里克·T·德西奥利 ;

克里斯托弗·J·佩特尼 ;

唐纳德·A·戈尔 .

美国专利 :CN114845773B ,2025-05-09

[5]

用于在短时间间隔内使用和控制较高剂量率电离辐射的方法和系统 [P].

肯尼斯·W·布鲁克斯 ;

詹姆斯·A·尼尔逊 ;

德里克·T·德西奥利 ;

克里斯托弗·J·佩特尼 ;

唐纳德·A·戈尔 .

中国专利 :CN114845773A ,2022-08-02

[6]

用于测量电离辐射的装置 [P].

F.伯托 ;

J.布里格曼 ;

E.弗赖布格尔 ;

W.罗伊特 .

中国专利 :CN111352146A ,2020-06-30

[7]

用于电离辐射检测的系统和方法 [P].

J·M·弗兰克 ;

J·C·小库珀 .

中国专利 :CN102687040A ,2012-09-19

[8]

高剂量率放射治疗、系统和方法 [P].

J·克莱顿 .

美国专利 :CN118871170A ,2024-10-29

[9]

一种抗γ瞬时电离剂量率辐射的LDO电路 [P].

刘智 ;

梁希 ;

姜洪雨 ;

葛梅 .

中国专利 :CN108415506A ,2018-08-17

[10]

用于剂量率检测器的支架、剂量率检测系统 [P].

董伟 ;

赵崑 ;

王凯 .

中国专利 :CN210376709U ,2020-04-21

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