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用于监测光谱辐射计的方法和设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980060560.7
申请日
:
2019-08-09
公开(公告)号
:
CN112840182B
公开(公告)日
:
2024-10-01
发明(设计)人
:
M·赫
R·黑林
F·舍韦
M·曼格斯特尔
T·科普
申请人
:
仪器系统有限公司
申请人地址
:
德国慕尼黑
IPC主分类号
:
G01J1/08
IPC分类号
:
G01J3/50
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
:
郭毅
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-10-01
授权
授权
共 50 条
[1]
用于监测光谱辐射计的方法和设备
[P].
M·赫
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M·赫
;
R·黑林
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R·黑林
;
F·舍韦
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F·舍韦
;
M·曼格斯特尔
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M·曼格斯特尔
;
T·科普
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T·科普
.
中国专利
:CN112840182A
,2021-05-25
[2]
光谱辐射计
[P].
孙丽娜
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机构:
深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
孙丽娜
;
林武生
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机构:
深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
林武生
;
何泽英
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深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
何泽英
;
柯晓慧
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深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
柯晓慧
;
胡盼
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深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
胡盼
;
周琛
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机构:
深圳市深科工程检测有限公司
深圳市深科工程检测有限公司
周琛
.
中国专利
:CN220304669U
,2024-01-05
[3]
光谱辐射计
[P].
董先威
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董先威
.
中国专利
:CN301889666S
,2012-04-18
[4]
用于观测辐亮度的高光谱辐射计
[P].
孙兆华
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孙兆华
;
李文华
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李文华
;
李晓伟
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李晓伟
.
中国专利
:CN208171441U
,2018-11-30
[5]
一种光谱辐射计
[P].
王进勇
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王进勇
;
吴基
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吴基
;
贾俊平
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贾俊平
;
杨远辉
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杨远辉
.
中国专利
:CN207850534U
,2018-09-11
[6]
校正核辐射计用的设备和方法
[P].
罗伯特·E·特罗克斯勒
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罗伯特·E·特罗克斯勒
;
韦瓦格·L·迪普
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韦瓦格·L·迪普
;
老威廉·F·特罗克斯勒
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老威廉·F·特罗克斯勒
.
中国专利
:CN1338048A
,2002-02-27
[7]
用于测定辐照度的高光谱辐射计
[P].
孙兆华
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孙兆华
;
李文华
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李文华
;
李晓伟
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李晓伟
.
中国专利
:CN208171436U
,2018-11-30
[8]
一种光谱辐射计的校准装置和校准方法
[P].
康品春
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康品春
;
蒋淑恋
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蒋淑恋
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郑鹏
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郑鹏
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周萍
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周萍
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崔潼
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崔潼
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阮育娇
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阮育娇
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黄艺滨
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黄艺滨
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温韬
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温韬
;
郑伟峰
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郑伟峰
.
中国专利
:CN108168696A
,2018-06-15
[9]
一种用于微波辐射计的增益补偿方法及微波辐射计
[P].
樊炎德
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深圳市德胜医疗设备有限公司
深圳市德胜医疗设备有限公司
樊炎德
;
田航
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机构:
深圳市德胜医疗设备有限公司
深圳市德胜医疗设备有限公司
田航
.
中国专利
:CN118329236A
,2024-07-12
[10]
一种光谱辐射计的校准装置
[P].
康品春
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康品春
;
蒋淑恋
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蒋淑恋
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郑鹏
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郑鹏
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周萍
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周萍
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崔潼
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崔潼
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阮育娇
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阮育娇
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黄艺滨
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黄艺滨
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温韬
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温韬
;
郑伟峰
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郑伟峰
.
中国专利
:CN208043242U
,2018-11-02
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