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电驱动总成疲劳寿命试验方法、装置和计算机设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410587630.7
申请日
:
2024-05-13
公开(公告)号
:
CN118424743A
公开(公告)日
:
2024-08-02
发明(设计)人
:
杨启
张浩天
柳俊
张鸿雁
宋健
李浩亮
景雪岩
申请人
:
一汽解放汽车有限公司
申请人地址
:
130011 吉林省长春市汽车开发区东风大街2259号
IPC主分类号
:
G01M17/007
IPC分类号
:
G01D21/02
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
舒丁
法律状态
:
公开
国省代码
:
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-08-02
公开
公开
2024-08-20
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01M 17/007申请日:20240513
共 50 条
[1]
伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
刘文威
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘文威
;
郭广廓
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
郭广廓
;
论文数:
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机构:
董成举
;
潘广泽
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
潘广泽
;
樊依圣
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
樊依圣
;
林家领
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
林家领
;
王远航
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王远航
;
陈勃琛
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈勃琛
;
论文数:
引用数:
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机构:
王春辉
.
中国专利
:CN114035042B
,2025-01-10
[2]
伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
刘文威
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刘文威
;
郭广廓
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郭广廓
;
董成举
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董成举
;
潘广泽
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潘广泽
;
樊依圣
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樊依圣
;
林家领
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林家领
;
王远航
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王远航
;
陈勃琛
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陈勃琛
;
王春辉
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王春辉
.
中国专利
:CN114035042A
,2022-02-11
[3]
伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
刘文威
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刘文威
;
郭广廓
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郭广廓
;
董成举
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董成举
;
潘广泽
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潘广泽
;
樊依圣
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樊依圣
;
林家领
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林家领
;
王远航
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王远航
;
陈勃琛
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陈勃琛
;
王春辉
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王春辉
.
中国专利
:CN113607455A
,2021-11-05
[4]
疲劳试验装置、疲劳试验方法和计算机可读存储介质
[P].
隋超
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隋超
;
杨健
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杨健
;
沈镇岳
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沈镇岳
.
中国专利
:CN114646552A
,2022-06-21
[5]
应力试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
陈锴彬
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陈锴彬
;
邓传锦
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邓传锦
;
邓锐
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邓锐
;
王兴
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王兴
;
彭韦淇
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彭韦淇
;
徐高楠
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徐高楠
.
中国专利
:CN115033430A
,2022-09-09
[6]
焊接结构疲劳寿命检测方法、装置和计算机设备
[P].
韩秋生
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韩秋生
;
王子国
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王子国
;
姚庆泰
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姚庆泰
;
乔小兵
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乔小兵
.
中国专利
:CN114912319A
,2022-08-16
[7]
RTA多层试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
周峰
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机构:
上海数禾信息科技有限公司
上海数禾信息科技有限公司
周峰
.
中国专利
:CN118313882B
,2025-01-07
[8]
持票试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
潘银生
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潘银生
;
刘爱东
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刘爱东
;
许勇斌
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许勇斌
;
朱俊
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朱俊
;
林伟
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林伟
.
中国专利
:CN112380393A
,2021-02-19
[9]
持票试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
潘银生
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机构:
岭东核电有限公司
岭东核电有限公司
潘银生
;
刘爱东
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机构:
岭东核电有限公司
岭东核电有限公司
刘爱东
;
许勇斌
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机构:
岭东核电有限公司
岭东核电有限公司
许勇斌
;
朱俊
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机构:
岭东核电有限公司
岭东核电有限公司
朱俊
;
林伟
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机构:
岭东核电有限公司
岭东核电有限公司
林伟
.
中国专利
:CN112380393B
,2024-04-12
[10]
RTA多层试验方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
周峰
论文数:
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机构:
上海数禾信息科技有限公司
上海数禾信息科技有限公司
周峰
.
中国专利
:CN118313882A
,2024-07-09
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