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一种介电常数测试装置及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410676912.4
申请日：
2024-05-29
公开(公告)号：
CN118604462A
公开(公告)日：
2024-09-06
发明(设计)人：
陈奕安
梁建
申请人：
上海泽丰半导体科技有限公司
申请人地址：
201306 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区翠波路201、221号1幢4层404室
IPC主分类号：
G01R27/26
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718
代理人：
黄贞君
法律状态：
公开
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-09-06 | 公开 | 公开 |
| 2024-09-24 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 27/26申请日:20240529 |