缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410201227.6

申请日：

2024-02-23

公开(公告)号：

CN117782995B

公开(公告)日：

2024-06-25

发明(设计)人：

许德明黄书茂陈育培黄文芳孟鹏飞

申请人：

宁德时代新能源科技股份有限公司

申请人地址：

352100 福建省宁德市蕉城区漳湾镇新港路2号

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/95

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司 11606

代理人：

吴迪

法律状态：

公开

国省代码：

福建省宁德市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-06-25	授权	授权
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20240223

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995A ,2024-03-29

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

葛亮 ;

王素利 .

中国专利 :CN119887676A ,2025-04-25

[3]

主板的缺陷检测方法、装置、缺陷检测系统、存储介质 [P].

徐盼 ;

王敏 ;

陈少裕 ;

林健良 ;

甘鹏 ;

王安琪 .

中国专利 :CN120823164A ,2025-10-21

[4]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质 [P].

朱合军 ;

钟建平 ;

林淼 ;

张恒瑞 ;

马先明 ;

陈其涛 ;

康映华 .

中国专利 :CN117726610A ,2024-03-19

[5]

缺陷检测方法、装置、缺陷检测系统、设备及介质 [P].

张俊瑞 ;

朱学辉 ;

王利 ;

刘一泽 ;

程久阳 ;

孙秀茹 .

中国专利 :CN115035059A ,2022-09-09

[6]

缺陷检测方法及检测系统、设备和存储介质 [P].

陈鲁 ;

雷云龙 ;

张嵩 .

中国专利 :CN117689604A ,2024-03-12

[7]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

[8]

一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

杜文莉 ;

堵威 ;

曹志兴 ;

钟伟民 ;

钱锋 .

中国专利 :CN119313967A ,2025-01-14

[9]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

李林峰 ;

汪杨刚 ;

胡伦庭 .

中国专利 :CN115439421A ,2022-12-06

[10]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

张元 ;

柴正约 ;

陈斌 ;

刘永江 ;

李波 .

中国专利 :CN116500042B ,2024-01-26

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