共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
物理量测量装置和物理量测量装置的制造方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010229933.3
申请日：
2020-03-27
公开(公告)号：
CN111751046B
公开(公告)日：
2024-07-02
发明(设计)人：
阿部裕佑
远山秀司
关谷晴彥
申请人：
长野计器株式会社
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01L19/14
IPC分类号：
G01L19/00
G01L19/06
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人：
李婷;王丽辉
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-07-02 | 授权 | 授权 |