显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411009192.2

申请日：

2024-07-26

公开(公告)号：

CN118533863A

公开(公告)日：

2024-08-23

发明(设计)人：

魏巍王刚

申请人：

苏州华兴源创科技股份有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G01N21/95

IPC分类号：

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郭凤杰

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-23	公开	公开
2025-09-23	授权	授权
2024-09-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20240726

共 50 条

[1]

显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置 [P].

魏巍 ;

王刚 .

中国专利 :CN118533863B ,2025-09-23

[2]

显示缺陷检测装置及其检测方法、显示缺陷检测系统 [P].

周乔珂 ;

李博 ;

王晶 ;

李响 ;

曲国健 ;

王伯长 ;

赵锬鸿 ;

郭晖 .

中国专利 :CN113218962A ,2021-08-06

[3]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[4]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

[5]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

杨东 ;

李阳 ;

李久航 ;

熊荣 ;

张海滨 ;

李红川 ;

王融慧 ;

潘彦霖 ;

杨歌 ;

何云 ;

马永生 .

中国专利 :CN119666984A ,2025-03-21

[6]

缺陷检测方法、装置、缺陷检测系统、设备及介质 [P].

张俊瑞 ;

朱学辉 ;

王利 ;

刘一泽 ;

程久阳 ;

孙秀茹 .

中国专利 :CN115035059A ,2022-09-09

[7]

增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

郭师峰 ;

冯伟 ;

吕高龙 ;

张艳辉 ;

徐天添 ;

李岩 ;

吴新宇 .

中国专利 :CN110954542A ,2020-04-03

[8]

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

王珂 .

中国专利 :CN110702685A ,2020-01-17

[9]

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

杨玉 ;

张健 .

中国专利 :CN119534478A ,2025-02-28

[10]

缺陷检测系统、缺陷检测方法及相关设备 [P].

李耀 ;

李海波 ;

牛茂龙 ;

于得水 .

中国专利 :CN117871538A ,2024-04-12

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