双光纤点衍射面形测量仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410786003.6

申请日：

2024-06-18

公开(公告)号：

CN118746259A

公开(公告)日：

2024-10-08

发明(设计)人：

冯鹏李中梁王向朝

申请人：

中国科学院上海光学精密机械研究所

申请人地址：

201800 上海市嘉定区清河路390号

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01B9/02055 G01B9/02015

代理机构：

上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317

代理人：

张宁展

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-08	公开	公开

共 50 条

[1]

点衍射干涉波像差测量仪及检测方法 [P].

唐锋 ;

王向朝 ;

张国先 ;

万修龙 .

中国专利 :CN103267629B ,2013-08-28

[2]

激光衍射测量仪 [P].

马和 .

中国专利 :CN2465176Y ,2001-12-12

[3]

一种长程面形测量仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN205642307U ,2016-10-12

[4]

一种长程面形测量仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN105737758B ,2016-07-06

[5]

光纤测量仪 [P].

R·奥森伯格 ;

N·埃姆德 ;

彼得·冯肯 .

中国专利 :CN102301206B ,2011-12-28

[6]

点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法 [P].

唐锋 ;

王向朝 ;

冯鹏 ;

郭福东 ;

卢云君 .

中国专利 :CN105466668A ,2016-04-06

[7]

点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法 [P].

王向朝 ;

唐锋 ;

张国先 ;

徐世福 .

中国专利 :CN105424325A ,2016-03-23

[8]

透镜衍射波面测量仪 [P].

张明丽 ;

刘立人 ;

万玲玉 ;

章磊 ;

栾竹 .

中国专利 :CN1542415A ,2004-11-03

[9]

基于衍射法的激光测量仪 [P].

张恒 ;

张明阳 ;

周志红 ;

闫秋云 ;

申晓良 .

中国专利 :CN223500351U ,2025-10-31

[10]

光纤色散测量仪 [P].

杨直 ;

王屹山 ;

赵卫 ;

张伟 ;

张挺 .

中国专利 :CN201408111Y ,2010-02-17

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