一种高压测试站及高压测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410970702.6
申请日
2024-07-19
公开(公告)号
CN118491447A
公开(公告)日
2024-08-16
发明(设计)人
吕微 熊陈玉 朱晓琳
申请人
上海赢朔电子科技股份有限公司
申请人地址
201799 上海市青浦区久远路389号2幢
IPC主分类号
B01J19/14
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
上海申晟知识产权代理有限公司 31444
代理人
王从清
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市 市辖区
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种高压测试站及高压测试装置 [P]. 
吕微 ;
熊陈玉 ;
朱晓琳 .
中国专利 :CN118491447B ,2024-11-29
[2]
一种高压测试装置及高压测试方法 [P]. 
莫雪香 ;
谢清南 ;
黄勇 .
中国专利 :CN112485618A ,2021-03-12
[3]
一种高压测试装置及高压测试方法 [P]. 
冼武 .
中国专利 :CN103207324A ,2013-07-17
[4]
高压测试装置 [P]. 
张先渝 .
中国专利 :CN109061241A ,2018-12-21
[5]
高压测试装置 [P]. 
刘智伟 ;
叶瑀 ;
刘浩明 ;
杨航 .
中国专利 :CN216145113U ,2022-03-29
[6]
高压测试装置 [P]. 
徐强 .
中国专利 :CN207457419U ,2018-06-05
[7]
一种芯片高压测试装置 [P]. 
陈蒙 .
中国专利 :CN221350992U ,2024-07-16
[8]
一种高压测试装置 [P]. 
邹宇华 ;
张鸿伟 .
中国专利 :CN211453861U ,2020-09-08
[9]
一种高压测试装置 [P]. 
马泽波 .
中国专利 :CN215894693U ,2022-02-22
[10]
一种高压测试装置 [P]. 
韦善宁 ;
侯光辉 .
中国专利 :CN207148163U ,2018-03-27